电子产品可靠性与环境试验杂志 部级期刊

电子产品可靠性与环境试验杂志简介

《电子产品可靠性与环境试验》经新闻出版总署批准，自1980年创刊，国内刊号为44-1412/TN，本刊积极探索、勇于创新，栏目设置及内容节奏经过编排与改进，受到越来越多的读者喜爱。

《电子产品可靠性与环境试验》是目前国内在电子产品质量、可靠性与环境适应性领域中唯一公开发行的、具有权威性和影响力的专业期刊。

《电子产品可靠性与环境试验》杂志学者发表主要的研究主题主要有以下内容：

（一）可靠性；集成电路；单粒子效应；木马；电迁移

（二）集成电路；可靠性；总剂量效应；静电放电；ESD

（三）可靠性；集成电路；单粒子效应；寿命评价；裸芯片

（四）IEC标准；电子类；电气；ISO；IEC

（五）战备完好率；RMS；战备完好性；设计软件；可靠性

（六）可靠性；电子元器件；AMSAA模型；电子设备；军用

（七）可靠性；电子元器件；塑封微电路；集成电路；VLSI

（八）IEC标准；电子类；电气；IEC；标准制修订

（九）集成电路；MESFET；砷化镓；VLSI；可靠性

（十）可靠性；集成电路；裸芯片；VLSI；SIGE_HBT

电子产品可靠性与环境试验收录信息

• 知网收录(中)
• 维普收录(中)
• 万方收录(中)
• 国家图书馆馆藏
• 上海图书馆馆藏

电子产品可靠性与环境试验杂志荣誉

• Caj-cd规范获奖期刊
• 中国优秀期刊遴选数据库
• 中国期刊全文数据库（CJFD）
• 中国学术期刊（光盘版）全文收录期刊

电子产品可靠性与环境试验历史收录

• 日本科学技术振兴机构数据库

电子产品可靠性与环境试验杂志特色

1、按学术研究规范和编辑部的有关规定，认真核对引文、注释和文中使用的其他资料，确保引文、注释和相关资料准确无误。如使用转引资料，应实事求是注明转引出处。

2、作者限于主要参与论文的写作、实验操作、数据采集和处理，并能对文稿内容负责、解答有关问题的责任者。作者的排列顺序由供稿者确定。

3、题名：简明、具体、概括文章的要旨，一般不超过20个汉字，可使用副标题。

4、参考文献：是对引文作者、作品、出处、版本等情况的说明，文中用序号标出，详细引文情况按顺序排列文尾。

5、请作者恪守学术伦理，文责自负。请勿一稿数投。