Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement SCIE

仪器仪表和测量的IEEE Transactions杂志

中科院分区:2区 JCR分区:Q1 预计审稿周期: 约6.8个月

《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版的工程技术国际刊物,国际简称为IEEE T INSTRUM MEAS,中文名称仪器仪表和测量的IEEE Transactions。该刊创刊于1952年,出版周期为Bimonthly。 《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》2023年影响因子为5.6,被收录于国际知名权威数据库SCIE。

ISSN:0018-9456
研究方向:工程技术-工程:电子与电气
是否预警:否
E-ISSN:1557-9662
出版地区:UNITED STATES
Gold OA文章占比:6.42%
语言:English
是否OA:未开放
OA被引用占比:0
出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版周期:Bimonthly
影响因子:5.6
创刊时间:1952
年发文量:2247
杂志简介 中科院分区 JCR分区 CiteScore 发文统计 通讯方式 相关杂志 期刊导航

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement 杂志简介

《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》重点专注发布工程技术-工程:电子与电气领域的新研究,旨在促进和传播该领域相关的新技术和新知识。鼓励该领域研究者详细地发表他们的高质量实验研究和理论结果。根据网友分享的投稿经验,平均审稿速度为 约6.8个月 。该杂志创刊至今,在工程技术-工程:电子与电气领域,影响力非凡,对来稿文章质量要求很高,稿件投稿过审难度很大,刊登文章的学术水平和编辑质量在同类杂志中均名列前茅。如果你想在该杂志上发表论文,你可以向编辑部提交文章,但文章必须具有重要意义并代表该领域专业的发展。我们欢迎广大同领域的研究者提交投稿。

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement 杂志中科院分区

中科院SCI分区数据
中科院SCI期刊分区(2023年12月升级版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 2区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 2区 2区
中科院SCI期刊分区(2022年12月升级版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 2区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 2区 2区
中科院SCI期刊分区(2021年12月旧的升级版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 2区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 2区 2区
中科院SCI期刊分区(2021年12月基础版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 3区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 3区 2区
中科院SCI期刊分区(2021年12月升级版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 2区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 2区 2区
中科院SCI期刊分区(2020年12月旧的升级版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 2区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 2区 2区
中科院分区趋势图
影响因子趋势图

中科院JCR分区:中科院JCR期刊分区(又称分区表、分区数据)是中国科学院文献情报中心世界科学前沿分析中心的科学研究成果,是衡量学术期刊影响力的一个重要指标,一般而言,发表在1区和2区的SCI论文,通常被认为是该学科领域的比较重要的成果。

影响因子:是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据,现已成为国际上通用的期刊评价指标,不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标,而且也是测度期刊的学术水平,乃至论文质量的重要指标。

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement 杂志JCR分区

Web of Science 数据库(2023-2024年最新版)
按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 53 / 352

85.1%

学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 9 / 76

88.8%

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 52 / 354

85.45%

学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 7 / 76

91.45%

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement CiteScore 评价数据(2024年最新版)

  • CiteScore:9
  • SJR:1.536
  • SNIP:1.741

CiteScore 排名

学科类别 分区 排名 百分位
大类:Physics and Astronomy 小类:Instrumentation Q1 13 / 141

91%

大类:Physics and Astronomy 小类:Electrical and Electronic Engineering Q1 114 / 797

85%

CiteScore趋势图
年发文量趋势图

CiteScore:是由Elsevier2016年发布的一个评价学术期刊质量的指标,该指标是指期刊发表的单篇文章平均被引用次数。CiteScore和影响因子的作用是一样的,都是可以体现期刊质量的重要指标,给选刊的作者了解期刊水平提供帮助。

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement 杂志发文统计

文章名称引用次数

  • Automatic Defect Detection of Fasteners on the Catenary Support Device Using Deep Convolutional Neural Network54
  • Intelligent Bearing Fault Diagnosis Method Combining Compressed Data Acquisition and Deep Learning53
  • Medical Image Fusion With Parameter-Adaptive Pulse Coupled Neural Network in Nonsubsampled Shearlet Transform Domain43
  • Monitoring of Large-Area IoT Sensors Using a LoRa Wireless Mesh Network System: Design and Evaluation40
  • Vibration-Based Intelligent Fault Diagnosis for Roller Bearings in Low-Speed Rotating Machinery34
  • Deep Architecture for High-Speed Railway Insulator Surface Defect Detection: Denoising Autoencoder With Multitask Learning26
  • Highly Sensitive SPR Biosensor Based on Graphene Oxide and Staphylococcal Protein A Co-Modified TFBG for Human IgG Detection26
  • RideNN: A New Rider Optimization Algorithm-Based Neural Network for Fault Diagnosis in Analog Circuits25
  • An Unsupervised-Learning-Based Approach for Automated Defect Inspection on Textured Surfaces21
  • A CNN-Based Defect Inspection Method for Catenary Split Pins in High-Speed Railway20

国家/地区发文量

  • CHINA MAINLAND696
  • Italy237
  • USA215
  • India144
  • England101
  • Canada92
  • GERMANY (FED REP GER)70
  • Spain53
  • South Korea47
  • Brazil38

机构发文发文量

  • INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT SYSTEM)85
  • CHINESE ACADEMY OF SCIENCES50
  • XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY44
  • TSINGHUA UNIVERSITY42
  • TIANJIN UNIVERSITY40
  • BEIHANG UNIVERSITY39
  • UNIVERSITY OF MISSOURI SYSTEM33
  • HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY30
  • SHANGHAI JIAO TONG UNIVERSITY28
  • SOUTHWEST JIAOTONG UNIVERSITY28

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement 杂志社通讯方式

《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》杂志通讯方式为:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。详细征稿细则请查阅杂志社征稿要求。本站可提供SCI投稿辅导服务,SCI检索,确保稿件信息安全保密,合乎学术规范,详情请咨询客服。

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