Microelectronic Engineering-影响因子2.6-首页

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Microelectronic Engineering 杂志简介

《Microelectronic Engineering》重点专注发布工程技术-工程：电子与电气领域的新研究，旨在促进和传播该领域相关的新技术和新知识。鼓励该领域研究者详细地发表他们的高质量实验研究和理论结果。该杂志创刊至今，在工程技术-工程：电子与电气领域，有较高影响力，对来稿文章质量要求较高，稿件投稿过审难度较大。欢迎广大同领域研究者投稿该杂志。

Microelectronic Engineering 杂志中科院分区

中科院SCI分区数据

中科院SCI期刊分区（2023年12月升级版）

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	4区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理：应用	4区 4区 4区 4区	否	否

中科院SCI期刊分区（2022年12月升级版）

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	3区	OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理：应用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技	3区 3区 4区 4区	否	否

中科院SCI期刊分区（2021年12月旧的升级版）

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	3区	OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理：应用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技	3区 3区 4区 4区	否	否

中科院SCI期刊分区（2021年12月基础版）

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	4区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理：应用	4区 4区 4区 4区	否	否

中科院SCI期刊分区（2021年12月升级版）

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	3区	OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理：应用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技	3区 3区 4区 4区	否	否

中科院SCI期刊分区（2020年12月旧的升级版）

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	3区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理：应用	3区 3区 3区 3区	否	否

中科院分区趋势图

影响因子趋势图

中科院JCR分区：中科院JCR期刊分区（又称分区表、分区数据）是中国科学院文献情报中心世界科学前沿分析中心的科学研究成果，是衡量学术期刊影响力的一个重要指标，一般而言，发表在1区和2区的SCI论文，通常被认为是该学科领域的比较重要的成果。

影响因子：是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据，现已成为国际上通用的期刊评价指标，不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标，而且也是测度期刊的学术水平，乃至论文质量的重要指标。

Microelectronic Engineering 杂志JCR分区

Web of Science 数据库（2023-2024年最新版）

按JIF指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q2	157 / 352	55.5%
学科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY	SCIE	Q3	94 / 140	33.2%
学科：OPTICS	SCIE	Q2	45 / 119	62.6%
学科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q2	81 / 179	55%

按JCI指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q3	179 / 354	49.58%
学科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY	SCIE	Q3	74 / 140	47.5%
学科：OPTICS	SCIE	Q3	64 / 120	47.08%
学科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q2	88 / 179	51.12%

Microelectronic Engineering CiteScore 评价数据（2024年最新版）

CiteScore：5.3
SJR：0.503
SNIP：0.847

CiteScore 排名

学科类别	分区	排名	百分位
大类：Physics and Astronomy 小类：Condensed Matter Physics	Q2	127 / 434	70%
大类：Physics and Astronomy 小类：Atomic and Molecular Physics, and Optics	Q2	68 / 224	69%
大类：Physics and Astronomy 小类：Electrical and Electronic Engineering	Q2	242 / 797	69%
大类：Physics and Astronomy 小类：Electronic, Optical and Magnetic Materials	Q2	87 / 284	69%
大类：Physics and Astronomy 小类：Surfaces, Coatings and Films	Q2	42 / 132	68%

CiteScore趋势图

年发文量趋势图

CiteScore：是由Elsevier2016年发布的一个评价学术期刊质量的指标，该指标是指期刊发表的单篇文章平均被引用次数。CiteScore和影响因子的作用是一样的，都是可以体现期刊质量的重要指标，给选刊的作者了解期刊水平提供帮助。

Microelectronic Engineering 杂志发文统计

文章名称引用次数
Beyond the lateral flow assay: A review of paper-based microfluidics40
3D printed microfluidics and microelectronics36
Brain-inspired computing with resistive switching memory (RRAM): Devices, synapses and neural networks36
Emerging trends in wide band gap semiconductors (SiC and GaN) technology for power devices32
Focused electron beam induced deposition meets materials science29
Micropumps and biomedical applications - A review25
Conduction mechanisms, dynamics and stability in ReRAMs17
Beyond 100 nm resolution in 3D laser lithography - Post processing solutions17
Microfluidic platforms for cell cultures and investigations17
Using block copolymers as infiltration sites for development of future nanoelectronic devices: Achievements, barriers, and opportunities11
国家/地区发文量
CHINA MAINLAND104
South Korea80
France56
USA47
Japan45
GERMANY (FED REP GER)41
India36
Taiwan31
Greece27
Italy27
机构发文发文量
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS)38
CEA22
COMMUNAUTE UNIVERSITE GRENOBLE ALPES18
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES15
FUDAN UNIVERSITY14
TECHNICAL UNIVERSITY OF DENMARK13
AUTONOMOUS UNIVERSITY OF BARCELONA12
CONSIGLIO NAZIONALE DELLE RICERCHE (CNR)12
NATIONAL CENTRE OF SCIENTIFIC RESEARCH DEMOKRITOS12
CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC)10

Microelectronic Engineering 杂志社通讯方式

《Microelectronic Engineering》杂志通讯方式为：ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1000 AE。详细征稿细则请查阅杂志社征稿要求。本站可提供SCI投稿辅导服务，SCI检索，确保稿件信息安全保密，合乎学术规范，详情请咨询客服。