Infrared Physics & Technology

Infrared Physics & Technology SCIE

红外物理与技术杂志

中科院分区:3区 JCR分区:Q2 预计审稿周期: 约3.0个月 约8.1周

《Infrared Physics & Technology》是一本由Elsevier出版商出版的物理与天体物理国际刊物,国际简称为INFRARED PHYS TECHN,中文名称红外物理与技术。该刊创刊于1994年,出版周期为Bimonthly。 《Infrared Physics & Technology》2023年影响因子为3.1,被收录于国际知名权威数据库SCIE。

ISSN:1350-4495
研究方向:光学-物理
是否预警:否
E-ISSN:1879-0275
出版地区:NETHERLANDS
Gold OA文章占比:4.48%
语言:English
是否OA:未开放
OA被引用占比:0.0214...
出版商:Elsevier
出版周期:Bimonthly
影响因子:3.1
创刊时间:1994
年发文量:475
杂志简介 中科院分区 JCR分区 CiteScore 发文统计 通讯方式 相关杂志 期刊导航

Infrared Physics & Technology 杂志简介

《Infrared Physics & Technology》重点专注发布光学-物理领域的新研究,旨在促进和传播该领域相关的新技术和新知识。鼓励该领域研究者详细地发表他们的高质量实验研究和理论结果。该杂志创刊至今,在光学-物理领域,有较高影响力,对来稿文章质量要求较高,稿件投稿过审难度较大。欢迎广大同领域研究者投稿该杂志。

Infrared Physics & Technology 杂志中科院分区

中科院SCI分区数据
中科院SCI期刊分区(2023年12月升级版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
物理与天体物理 3区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 3区 3区 3区
中科院SCI期刊分区(2022年12月升级版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
物理与天体物理 2区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 3区 3区 3区
中科院SCI期刊分区(2021年12月旧的升级版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
物理与天体物理 2区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 2区 3区 3区
中科院SCI期刊分区(2021年12月基础版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
物理 3区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 3区 3区 4区
中科院SCI期刊分区(2021年12月升级版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
物理与天体物理 2区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 2区 3区 3区
中科院SCI期刊分区(2020年12月旧的升级版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
物理与天体物理 2区 OPTICS 光学 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 2区 3区 3区
中科院分区趋势图
影响因子趋势图

中科院JCR分区:中科院JCR期刊分区(又称分区表、分区数据)是中国科学院文献情报中心世界科学前沿分析中心的科学研究成果,是衡量学术期刊影响力的一个重要指标,一般而言,发表在1区和2区的SCI论文,通常被认为是该学科领域的比较重要的成果。

影响因子:是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据,现已成为国际上通用的期刊评价指标,不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标,而且也是测度期刊的学术水平,乃至论文质量的重要指标。

Infrared Physics & Technology 杂志JCR分区

Web of Science 数据库(2023-2024年最新版)
按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 25 / 76

67.8%

学科:OPTICS SCIE Q2 37 / 119

69.3%

学科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 63 / 179

65.1%

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 24 / 76

69.08%

学科:OPTICS SCIE Q2 43 / 120

64.58%

学科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 55 / 179

69.55%

Infrared Physics & Technology CiteScore 评价数据(2024年最新版)

  • CiteScore:5.7
  • SJR:0.565
  • SNIP:1.043

CiteScore 排名

学科类别 分区 排名 百分位
大类:Physics and Astronomy 小类:Condensed Matter Physics Q2 116 / 434

73%

大类:Physics and Astronomy 小类:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q2 63 / 224

72%

大类:Physics and Astronomy 小类:Electronic, Optical and Magnetic Materials Q2 83 / 284

70%

CiteScore趋势图
年发文量趋势图

CiteScore:是由Elsevier2016年发布的一个评价学术期刊质量的指标,该指标是指期刊发表的单篇文章平均被引用次数。CiteScore和影响因子的作用是一样的,都是可以体现期刊质量的重要指标,给选刊的作者了解期刊水平提供帮助。

Infrared Physics & Technology 杂志发文统计

文章名称引用次数

  • Optical remote sensing image enhancement with weak structure preservation via spatially adaptive gamma correction28
  • Towards a table-top synchrotron based on supercontinuum generation19
  • Robust contact-point detection from pantograph-catenary infrared images by employing horizontal-vertical enhancement operator19
  • Two dimensional materials based photodetectors17
  • An overview of corrosion defect characterization using active infrared thermography17
  • Nondestructive measurement of soluble solids content in apple using near infrared hyperspectral imaging coupled with wavelength selection algorithm16
  • Infrared and visible image fusion with ResNet and zero-phase component analysis16
  • An infrared small target detection method based on multiscale local homogeneity measure12
  • Infrared small target detection based on local intensity and gradient properties11
  • Midwave infrared barrier detector based on Ga-free InAs/InAsSb type-II superlattice grown by molecular beam epitaxy on Si substrate11

国家/地区发文量

  • CHINA MAINLAND690
  • India61
  • USA58
  • Iran39
  • England32
  • Poland30
  • Russia28
  • South Korea23
  • Canada22
  • Italy19

机构发文发文量

  • CHINESE ACADEMY OF SCIENCES130
  • HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY62
  • TIANJIN UNIVERSITY40
  • SHANGHAI INSTITUTE OF TECHNICAL PHYSICS, CAS33
  • NANJING UNIVERSITY OF SCIENCE & TECHNOLOGY24
  • CHANGCHUN UNIVERSITY OF SCIENCE & TECHNOLOGY23
  • UNIVERSITY OF ELECTRONIC SCIENCE & TECHNOLOGY OF CHINA21
  • BEIHANG UNIVERSITY20
  • HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE & TECHNOLOGY18
  • RUSSIAN ACADEMY OF SCIENCES18

Infrared Physics & Technology 杂志社通讯方式

《Infrared Physics & Technology》杂志通讯方式为:ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1000 AE。详细征稿细则请查阅杂志社征稿要求。本站可提供SCI投稿辅导服务,SCI检索,确保稿件信息安全保密,合乎学术规范,详情请咨询客服。

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